Dr. Felix Aguilar Valdez
Investigador Titular B
Cubículo: 2213
Teléfono: +52 (222) 266 3100 ext. 2213
Correo electrónico: faguilar@inaoep.mx
Líneas de Investigación:
- Microscopía de alta resolución
- Microscopía confocal
- Difracción de campo cercano
- Imagenes Microscopicas
Información Curricular:
- Doctorado en Ciencias, especialidad en Óptica.
"Metodos Rugosos en Esparciminetos de la Luz y su Apliacación en Microscopia".
Cicese, Ensenada, B.C. México, 1994. - Maestría en Ciencias, especialidad en Óptica.
"La Validez de la Aproximación de Kirchoff en Microscopía de Superficies".
Cicese, Ensenada, B.C; México, 1989.
Publicaciones Recientes:
- 3D thickness map reconstruction of dielectric thin films using scattering of surface plasmon polaritons
Cesar E. García-Ortiz, Rodolfo Cortes, Robin Orejel, Raul Hernandez-Aranda, Israel Martínez-López, Félix Aguilar, Víctor Coello.
Optics Letters, 43, 4, (2018), 691-694. DOI: 10.1364/OL.43.000691. - Focus measure method based on the modulus of the gradient of the color planes for digital microscopy
Román Hurtado-Pérez, Carina Toxqui-Quitl, Alfonso Padilla-Vivanco, J. Félix Aguilar-Valdez, and Gabriel Ortega-Mendoza.
Optics Engineering, 57, (2), (2018), 023106-1-023106-11. DOI: 10.1117/1.OE.57.2.023106.
Última actualización:
21-02-2023 / 14:48 por:
Natalia Guevara
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